AgCuO-kontaktchips är utformade som ett miljövänligt-alternativ till silverkadmiumoxid (AgCdO), och levererar hög elektrisk tillförlitlighet i krävande växlingsapplikationer. Dessa komponenter är tillverkade genom pulvermetallurgi och interna oxidationsprocesser och har fina kopparoxidpartiklar som är jämnt fördelade i en ren silvermatris. Denna mikrostruktur förhindrar att kontakten fastnar, minskar materialöverföring under elektriska ljusbågar och uppfyller helt globala RoHS- och REACH-miljöföreskrifter.
Formuleringar och materialkvaliteter
AgCuO8 (8 % CuO, balans Ag):Högsta elektriska ledningsförmåga och lägsta initiala kontaktresistans. Bäst lämpad för kontinuerlig hög-strömledning med minimal temperaturökning.
AgCuO10 (10 % CuO, balans Ag):Balanserad standardformulering som erbjuder hög bågerosionsbeständighet och termisk stabilitet över medeltunga-industriella växlingscykler.
AgCuO12 (12 % CuO, balans Ag):Maximalt motstånd mot kontaktsvetsning och materialerosion under svår kopplingsbelastning och höga inkopplingsströmförhållanden.
Viktiga prestandafördelar
Anti-svetsningsprestanda:Dispergerad oxidfas avbryter bryggbildning av flytande silver under hög-strömbågbildning, vilket förhindrar kontaktangrepp under kortslutningsförhållanden.
Kontrollerad bågeerosion:Enhetlig partikelfördelning sprider termisk stress, minimerar lokaliserad gropbildning och förlänger den mekaniska kopplingens livslängd.
Miljööverensstämmelse:100 % kadmium-fri sammansättning uppfyller världsomspännande miljöstandarder utan att kompromissa med brytkapaciteten.
Värmehantering:Upprätthåller låga driftstemperaturer under nominella kontinuerliga strömmar, vilket skyddar interna ställdonfjädrar från värmeförsämring.
Tekniska specifikationer
|
Parameter |
AgCuO8 |
AgCuO10 |
AgCuO12 |
Teststandard |
|
CuO-innehåll (vikt%) |
8.0% |
10.0% |
12.0% |
Kemisk analys |
|
Densitet (g/cm³) |
Större än eller lika med 10,1 |
Större än eller lika med 9,9 |
Större än eller lika med 9,8 |
Arkimedes metod |
|
Elektrisk ledningsförmåga (MS/m) |
Större än eller lika med 48,0 |
Större än eller lika med 42,0 |
Större än eller lika med 38,0 |
Eddy Current |
|
Hårdhet (HV) |
75 - 105 |
85 - 120 |
95 - 130 |
Mikro-Vickers |
|
Skjuvhållfasthet (bimetallskikt) |
Större än eller lika med 180 MPa |
Större än eller lika med 180 MPa |
Större än eller lika med 180 MPa |
ASTM B565 |
|
CuO-partikelstorlek |
Mindre än eller lika med 3 um |
Mindre än eller lika med 3 um |
Mindre än eller lika med 3 um |
Metallografisk |
|
Dimensionstolerans (L x B) |
+/- 0.05 mm |
+/- 0.05 mm |
+/- 0.05 mm |
Optisk mikrometer |
|
Tjocklekstolerans |
+/- 0.03 mm |
+/- 0.03 mm |
+/- 0.03 mm |
Mätblock |
Strukturella former och geometrier
Fasta monometalliska platta chips:Längd: 2.0 - 25.0 mm|Bredd: 2.0 - 20.0 mm|Tjocklek: 0.5 - 4.0 mm. Lämplig för standardmotstånd eller induktionslödning på mässings- och kopparterminaler.
Toppchips med radiusad profil:Sfärisk radie: R 5.0 - R 50,0 mm. Garanterar definierad kontaktuppriktning under mekaniska aktiveringstoleranser.
Bimetall trelagers-chips:Toppfunktionellt AgCuO-skikt (30%–70% tjocklek) bundet till ett substratskikt av rent koppar för effektiv lödning och lägre ädelmetallinnehåll.
Industriella applikationer
Circuit Breakers (MCCB):Huvudkontaktelement klassade för 63A till 800A kretsskyddsuppgifter.
AC-kontaktorer:Strömbrytarkomponenter konstruerade för AC-3 och AC-4 motoromkopplingskategorier.
Dvärgbrytare (MCB):Bågbeständiga-kontakter för kommersiella och industriella strömavbrottsmoduler.
Kraftiga-kraftreläer:Styrreläer arbetar under hög kapacitiva eller induktiva belastningsomkopplingscykler.
Anpassning och sekundär bearbetning
Skiktdjupsförhållanden:AgCuO funktionsskikt anpassningsbart från 0,3 mm till 2,5 mm; kopparstöd justerbar från 0,2 mm till 2,0 mm.
Lödlager på baksidan:Finns med baksida i rent silver (2 - 10 um), kopparunderlag eller för-fluxbeläggning av silverlödningslegering (Ag-Cu-Zn-Sn).
Ytlokaliseringsfunktioner:Planhet kontrollerad inom 0,015 mm; valfria lokaliseringsgropar, kors-spår eller justeringsflikar för automatisk val-och-placering.
Tilläggsändringar:Inkluderande av sekundära oxider (In2O3, WO3 eller Bi2O3 vid 0,1 %–0,5 % vikt) för att förfina bågrörelser och kontaktmotståndsbeteende.
Kvalitetssäkring & Verifiering
Mikrostrukturanalys:Tvärsnittsmetallografi bekräftar oxidpartikelfördelning, matrixhomogenitet och gränsytebindningsintegritet.
Elementär och densitetsverifiering:Röntgenfluorescens (XRF) kontrollerar exakta förhållandet silver-till-koppar; hydro-densitetstester säkerställer komprimeringskvalitet.
Mekanisk bindningstestning:Mikro-Vickers hårdhetskartläggning och destruktiva skjuvprovning garanterar bimetallskiktets styrka.
Automatiserad optisk inspektion (AOI):100% vision system screening upptäcker kantgrader (<= 0.02 mm), dimensional variances, and surface defects.
Förpackning & Logistik
Vakuumförseglade barriärpåsar:Ren-rum packad i vakuum-förslutna polyetenpåsar med torkmedel för att förhindra atmosfärisk oxidation.
Tejp- och rullmatningsförpackning:Valfria antistatiska tejprullar som är kompatibla med höghastighetsautomatiska monteringslinjer-.
Spårbarhetsmärkning:Varje förpackning visar streckkodade batchdata kopplade till råvaruvärmenummer, sintringskörningsloggar och inspektionscertifikat.
Vanliga frågor
Populära Taggar: silver koppar oxid kontakt chips, Kina silver koppar oxid kontakt chips tillverkare, leverantörer, Elektriskt kontaktmaterial, Magnetlås reläkontakter, Nitföreningskontakter

